学术报告预告—精密测量技术的发展及挑战
报告题目:精密测量技术的发展及挑战
报告内容:系统地讲述齿轮测量理论由“比较测量”到“啮合运动测量”、直至“模型化测量”的发展历程,齿轮测量技术由“机械为主”到“机电结合”、直至当今的“光一机一电”与“信息技术”综合集成的演变过程。通过免形状测量模式、阿贝原则再认识、FormFree300测量机设计等实践案例阐述不同的创新模式。
时 间:2015年6月10日(周三)下午2:30-4:00
地 点:西校区 教7-105
主办单位:机电工程学院、科学技术处
报告人:石照耀
石照耀,工学博士,博士生导师,享受国务院特殊津贴专家;国际标准化组织ISO/TC60(齿轮技术)中国代表、国际机电一体化大会中国委员、德国国家计量研究院客座科学家、北京市科学技术委员会“精机工程”特聘专家、中国科学院光电技术研究所客座研究员、中国计量测试学会计量仪器专业委员会副主任、中国机械工程学会机械传动分会副主任、中国仪器仪表学会机械量测试技术及仪器分会副理事长。因在精密测试技术和齿轮工程领域做出的重要贡献入选科学中国人(2010)年度人物。
30年来,一直从事精密测试技术与齿轮工程方面的研究,研制了一系列大型精密测量仪器并形成产品,取得了良好的经济社会效益。参与了一系列国际(ISO)、国家(GB)和行业(JB)技术标准的制订;参与了我国机械行业一系列规划和科技计划项目的起草,与国内外学术界、产业界有广泛合作。
迄今,获国家科技进步二等奖1次,获授权发明专利22项,发表论文130多篇、专著1本。
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